会议名称(英文)：  Reflection, Scattering, and Diffraction from Surfaces IV

所属学科：  光学

开始日期：  2014-08-17

结束日期：  2014-08-21

所在国家：  美国

所在城市：  美国

具体地点：  San Diego, California

主办单位：  国际光学和光子学学会

摘要截稿日期：  2014-02-03

联系电话：  +1 360 685 5600

E-MAIL：  saral@spie.org

会议网站：  http://spie.org/OPO/conferencedetails/reflection-scattering-diffraction

会议背景介绍：

This Conference will bring together the theory, modeling, measurement and applications for the reflection, scattering and diffraction of electromagnetic waves from the far ultraviolet through the far infrared. It also includes the topic of stray light in optical systems: stray light research, analysis, and component or system level measurements for all types of optical systems. This meeting provides a forum for researchers, scientists, engineers, and systems designers to present recent results dealing with reflection, rough surface scattering, diffraction, and stray light for related applications. 

征文范围及要求：

Papers are solicited on, but not limited to, the following topics: reflection, scattering and diffraction theory, modeling and analysis advances in measurement methods, techniques and optical instrumentation coherent effects, including surface plasmons, localization, speckle and speckle correlations, and spectral shifts rough surface retrieval polarization analysis and measurement for scattering and diffraction scatterometry, reflectometry, and spectroscopic ellipsometry related properties including absorptance, emittance/emissivity, and index of refraction bidirectional reflectance, transmittance and scatter distribution functions (BRDF, BTDF, and BSDF, respectively); measurement and modeling including: measurements of optical components such as mirrors, refractive elements, gratings, dichroic mirrors, and materials such as black surfaces instrumentation, including techniques to measure very near specular scatter comparison with calculations based on surface profilometry measurements techniques for reducing scatter in optics. 

sources of scatter, including surface properties, particulate contamination, molecular contamination, and on-orbit effects scattering models and measurements for computer graphics and machine vision scattering computation for non conventional imagery (polarization imagery, 3D laser imagery) diffuse reflectance and transmittance, and total integrated scatter light scattering methods and instruments for medical diagnosis including tissue optics multispectral scatter from pharmaceutical and biomedical materials surface roughness measurement with stylus and optical profilometry, STM, AFM, and near-field optical microscopes optical system contamination, measurement, and control applications software for stray light analysis novel techniques for stray light analysis and suppression in imaging and illumination systems ghost reflection analysis and suppression techniques for the suppression of diffracted energymetrology standards and uncertainty evaluation stray light issues in novel optical systems involving elements such as diffractive optics, segmented and sparse aperture optics, hyperspectral imaging, etc.

system level stray light analysis and comparison to test and deployed results signature analysis and processing of laser-radar and seeker data characterization of optical properties measurement using UV, visible, and IR radiation Rayleigh scattering, velocimetry, transient grating spectroscopy, holography micro/nano applications and optical systems.