会议名称(英文)：  Infrared Sensors, Devices, and Applications IV

所属学科：  光学,光电子学,仪器仪表与装置

开始日期：  2014-08-17

结束日期：  2014-08-21

所在国家：  美国

所在城市：  美国

具体地点：  San Diego, California

主办单位：  国际光学和光子学学会

摘要截稿日期：  2014-02-03

联系电话：  +1 360 685 5600

E-MAIL：  saral@spie.org

会议网站：  http://spie.org/OPO/conferencedetails/infrared-sensors-devices-applications

会议背景介绍：

The detection of infrared radiation has proven to be a viable investigative tool in environmental studies, homeland security, and in medical, automotive, and military applications. This conference will provide a venue for papers ranging from basic device physics to novel applications. There will be sessions featuring image processing techniques on the focal plane and smart readout electronics. Rapid development in feature size has led to the need for continual state-of-the-art updates to the optics community. Recent developments in strained superlattices, type II antimony-based detector materials, InAs:GaAs, and developments in room temperature infrared detectors have resulted in significant material advances. Various architectures using signal conditioning technology have been demonstrated at cryogenic temperatures for higher-performance cooled IR FPAs, and are therefore available as tools for researchers in various disciplines. We are looking for papers that demonstrate state-of-the-art in novel readout structures, on-chip signal processing, and papers that will provide information on newly designed, less expensive digital circuits for fast and ultrafast signal processors on the focal plane array. 

In addition, the conference is intended as a high-level forum bringing together scientists and engineers involved in the research, design, and development of infrared sensors and unique IR device structures including nanotechnology. 

征文范围及要求：

Papers are solicited for, but not limited to, the following topics: SWIR, MWIR, LWIR, and VLWIR detectors nanotechnology-based EO/IR detectors nano-/microbolometers

HgCdTe (MCT) technology MBE growth of HgCdTe on low-cost, large-format Si substratesstrained-layer-superlattice technology higher-operating-temperature detectors avalanche photodiodes electronic readout image intensifier devices innovative low-noise readout circuits, including cryogenic electronics & on-chip S/H

infrared detector materials (i.e., InSb, HgCdTe, GaAs) smart focal planes diffractive optics on FPA FPA signal and data processing, both on- and off-chip advanced microchannel plates advanced fiber optics for sensing cameras for low-light-level high-definition TV photon-counting imaging lidar and ladar imaging image intensifiers for military night vision systems plasmonic IR applications robotic vision

unmanned autonomous vehicle cameras undersea imaging multispectral systems commercial applications space-based sensing applications astronomical applications industrial applications automotive applications medical applications imaging spectrometer applications imaging polarimeter applications.