会议名称(中文): 第16届半导体缺陷识别、成像与物理国际学术会议 会议名称(英文): 16th International Conference on Defects-Recognition,Imaging and Physics in Semiconductors 所属学科: 电子工程,半导体技术 开始日期: 2015-09-06 结束日期: 2015-09-10 所在国家: 中华人民共和国 所在城市: 江苏省 苏州市 主办单位: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 协办单位: 浙江大学硅材料国家重点实验室和厦门大学物理学院
会议背景介绍: 第16届半导体缺陷识别、成像与物理国际学术会议(英文名称: 16th International Conference on Defects-Recognition,Imaging and Physics in Semiconductors。简称:DRIP XVI )将于2015年9月6日至9月10日在江苏省苏州市举行,会议由中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所主办,浙江大学硅材料国家重点实验室和厦门大学物理学院等单位协办。该会议于1985年在法国蒙彼利埃创办,每两年举行一次,已经在国际半导体研究领域形成广泛的影响。此次会议在华举办,将对于促进我国与国际半导体材料学术界交流、扩大纳米所在国际半导体材料研究领域的影响具有非常重要的意义,欢迎广大学者老师持续关注,踊跃参加。 |